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华虹NEC凭借创新产品和技术荣获两项大奖

作者:本站编辑 来源:本站

华虹NEC的0.13微米SONOS嵌入式存储器工艺技术具有低动态电流,极低静态电流,小存储单元,可配置容量,快速读出和其他优异性能。实现业界领先的可靠性擦除寿命和数据保留时间。目前,该技术平台具有各种容量的嵌入式闪存IP,完整的模拟IP,高速静态随机存取存储器和低功耗设计库,高性能IO单元以及完善的产品和测试解决方案,可广泛应用在智能卡、MCU / SOC和USBKey等产品中。

华虹NEC凭借创新产品和技术荣获两项大奖

华虹NEC成功开发出世界领先的芯片,测量数量相同,达到512次超级并发测试(SCT,SuperConcurrentTesting)。该技术的成功开发有效降低了晶圆测试成本,提高了测试效率和产品竞争力,与原始技术平台相比,测试效率提高了8倍,并支持高集成度晶圆。测试已成为世界领先的测试技术平台。该测试平台已成功应用于华虹NEC制造服务的延伸。这项创新技术为中国主要集成电路设计公司(智能卡、USBKey、可编程MCU等)的主要产品提供了优化的测试解决方案。

华虹NEC总裁兼首席执行官邱慈云博士表示,我们很荣幸能够获得中国半导体创新产品和技术奖两项大奖,这是华虹NEC不断创新的结果。华虹NEC在嵌入式非易失性存储器技术方面保持行业领先地位,是中国领先的智能卡和SIM卡制造商。这两个获奖项目是华虹NEC在过去几年中在嵌入式非易失性存储器领域的最新成果,为下一代智能提供极具竞争力的全过程、设计支持和批量生产测试解决方案卡芯片。 。

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